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微观形貌分析

发布日期:2017-09-28
微观形貌分析
Morphology Analysis

  观察微观区域的形貌

检测范围
Examination Area

  电子元器件、汽车电子、医疗、通讯、手机、电脑、电气等

试验简介
Test Profile

  按照具体检测要求,通过光学显微镜、扫描电镜对样品的表面、断口及其它关注截面进行高倍观察。比如表面形貌、断口形貌、金相组织、微观层状结构等需要进行高倍观察的检测项目。

  通常光学显微镜的观察倍数最大为1000倍,检测面必须平整;扫描电镜对平整度要求不高,断口形貌也能观察,需要样品具有导电性,一般的扫面电镜可清晰观测的最大倍数为5000~20000倍不等(具体看样品的导电性,以及气体残余情况)。场发射扫描电镜的可清晰观测的最大倍数在10万倍以上。

试验设备
Test Equipment

 

光学显微镜

扫描电镜(SEM)

试验图片
Test Picture